品牌

蔡司,FEI,布鲁克,JEOL

型号

Sigma300;FEI Tecnai F20；D8 advance；JXA-8530F PLUS

生产厂商

SEM生产厂家：蔡司；TEM生产厂家：FEI公司；XRD生产厂家：布鲁克；厂家：日本电子株式会社

产地信息

日本。德国，荷兰

技术规格及参数

技术参数与规格：1.SEM拍摄放大倍数为：20k、10k、5k、1k、500倍等倍数；参考标准：JY/T 0584-2020 扫描电子显微镜分析方法通则;2.tem加速电压：200KV放大倍数：25K-1030K点分辨率：0.24nm线分辨率：0.102nm信息分辨率：0.14nm样品倾斜角度:< ±30°相机常数: 30-4500 mm；电子枪：肖特基热场发射电子枪球差系数 / 色差系数Cc：1.2mm/1.2mm3.XRDa. 常规广角: 5--90°，小角：0.5--10°；b. 常规测试速率：10°/min、5°/min、2°/min；小角测试速率：1°/min, 0.5°/minc.GIXRDd.XRD-Rocking4.EPMA（1） 电子枪：肖特基热场发射枪（并提供备用）；（2） 二次电子像分辨率：≤3nm（30KV）（3）背散射电子像灵敏度：成分分辨足以清晰分辨黄铜和黄铜（4） 加速电压： 0.5 ～ 30kV（5）束流范围：10-12 ～ 2×10-6 A;束流稳定度：≤±3×10-3/h（6） 分析元素：4Be - 92U（7） 分析精度：好于1%（主元素, 含量＞5%）和5%（次要元素, 含量～1%）（8） 谱仪道数：5道（9） 分光晶体类型：具备全聚焦和半聚焦晶体（10） 分光晶体交换：可任意位置进行自动交换（11） 谱仪控制：异步控制和同步控制两种（12）分析速度：自动全元素定性分析时间≤40s

售后及质保要求

1）我方应保证其提供的所有测试数据真实可信，且测试过程符合相应的测试标准和技术规范；2）我方应严格按照甲方提出的测试要求对样品进行测试，在甲方要求的时间内提供相应的检测报告（含仪器导出的原始数据或经过格式转换的原始数据、测试过程的关键技术参数、测试过程的非正常现象与解决方案），并承诺及时解答甲方的疑惑。3）检测周期自我方收到待测样品起开始计算，检测周期为72小时，法定节假日除外，即自我方收到样品起，扣除法定节假日后，72小时内向甲方提供测试结果；4）合作期限为18个月，即自合同签订之日T0起至T0+18个月（T0指合同签订日期）；5）测试完成后，我方根据甲方提供的资料开具增值税专用发票，甲方收到实质发票后，以银行汇款的方式缴付测试费用；6）甲方在收到测试结果后，如有疑问可在收到数据一周内提出疑问，在非样品原因的前提下，我方给出调整方案，并免费进行调整测试，或我方根据甲方的调整要求免费进行调整测试； 7）测试所得研究成果及相关知识产权归甲方所有，我方不得将相关测试结果发布到公共网络平台，泄露给第三方，或为了个人利益挪作它用。