招标
反射膜厚仪（SCUT-HW-JJ20240444号）采购公告
金额
12.5万元
项目地址
广东省
发布时间
2024/11/08
公告摘要
公告正文
| 项目名称 | 反射膜厚仪 | 项目编号 | SCUT-HW-JJ20240444号 |
|---|---|---|---|
| 公示开始日期 | 2024-11-08 10:35:13 | 公示截止日期 | 2024-11-12 11:00:00 |
| 采购单位 | 华南理工大学 | 付款方式 | 预付 40%，剩余部分验收合格后 30 天内一次性付清，每次付款前应由乙方提供等额发票； |
| 联系人 | 中标后在我参与的项目中查看 | 联系电话 | 中标后在我参与的项目中查看 |
| 签约时间要求 | 成交后60工作日 | 到货时间要求 | 签约后30工作日 |
| 预算 | ￥ 125,000 | ||
| 供应商资质要求 | 满足《中华人民共和国政府采购法》第二十二条规定 | ||
| 收货地址 | 华南理工大学广州国际校区 | ||
采购清单1
| 采购物品 | 采购数量 | 计量单位 | 所属分类 |
|---|---|---|---|
| 反射膜厚仪 | 1 | 台 | 其他分析仪器 |
| 品牌 | 武汉颐光科技 | ||
|---|---|---|---|
| 规格型号 | SR-C | ||
| 技术参数 | 1) 基本功能：获取薄膜厚度值以及 R、N/K 等光谱 2) 光谱分析范围：380nm-1000nm 3) 测量光斑大小：标准1.5mm，最小0.5mm 4) 膜厚重复性测量精度：0.01nm（100nm 硅基 SiO2样件，30次重复测量） 5) 膜厚绝对精度：0.2%或1nm之间较大者 6) 膜厚测量范围：15nm-70μm 7) 测量n和k值厚度要求：>100 nm 8）反射率重复性测试：±0.5%（标准样品） 9) 单点测量时间：≤1s 10) 色坐标测量，a/b+0.2+0.3，x/y+0.002,Y+0.3 11）光强调节：对待测样件的包容性好，对于不同反射样（反射率从4%到99.5%），可实现光强调节 12) 光源：高性能卤素光源，寿命大于2000H 13) 建模功能：支持常用光学常数模型以及常用振子模型（柯西模型、洛伦兹模型、高斯模型等），并支持图形化多振子混合模型拟合功能 14）分析软件：拥有不少于100种不同材料的数据库，可自由导入新材料文件；可进行不同镀膜材料的建模，模拟镀膜膜系的反射率曲线 15) 基板尺寸：最大支持样件尺寸到150*150mm | ||
| 售后服务 | 服务网点:当地;电话支持:7x24小时;服务时限:报修后24小时;商品承诺:原厂全新未拆封正品;质保期:一年; | ||
华南理工大学
2024-11-08 10:35:13
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