采购需求：晶体检测仪
发布单位：中国电子科技集团公司第二研究所
发布时间：2022.11.16
投标要求：可测量碳化硅晶锭端面、柱面的晶向角度，碳化硅晶片的端面晶向角度；可测量晶体多晶片尺寸：6-8英寸，及中间任意尺寸；仪表精度：±15″；重复精度：5次重复检测极差值±1′。