项目名称：微纳分辨率测试卡
项目编号：JJ20241642
公告开始日期：2024-11-28 16:02:08
公告截止日期：2024-12-01 17:00:00
采购单位：重庆大学
预算总价：未公布
收货地址：重庆大学A区ICT研究中心

采购商品：X射线微纳分辨率测试卡
采购数量：1
计量单位：件
品牌：进口
型号：-
技术参数及配置要求：Slit Width: 最小不大于0.4μm、最大大于等于15.0μm Slit Size: 不少于16种。 Material：金或者钨 Whole Size: 40x30x5 mm详情请访问原网页！