公告摘要
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公告正文
专业领域:电子元器件,计算机与软件,先进材料与制造,可靠性/测试性/维修性

一、项目名称
       20230215询价-PCB/鉴定试验/SIP电路/图像信号处理器/检测服务
二、项目内容
       1. XX项目
标的名称规格型号计量单位数量
CSCB7043鉴定检验CSCB70431.00
JK2579-鉴定试验JK25791.00
PCB0.继电器扩展板模块HKE_RLE6.00

378EVB_V2.120.00

378软包封_v2.112.00

5510_DUT6.00

5510_ESD6.00

6713-400_28335_905型PCB6.00

70231 EVB10.00

ADG408_V1_dB测试板3.00

BU09无球_测试板3.00

CA54SX08-ESD-SF5.00

CA54SX08-RBF-ESD-2021113016.00

CA54SX08-SF-ESD5.00

CADN8834测试板3.00

CAN POWER_ADAPTER_2021120760.00

CH438Q测试板2.00

CLVC8T245测试板3.00

CMAX313 pcb3.00

CMDSPF2812K_CQFP176 pcb3.00

COP4177_V03测试板3.00

CPD3415-A1N01.00

CS3151_SM2.00

CS32F107VEH_testsocket_S_Board5.00

CS32F407IGH_ESD5.00

CS32F407IGH_testsocket_S_Board5.00

CS32F407IGH老炼板6.00

CS889-老化6.00

CSCG04828-A0N09.00

CSCLK914-925_V02 pcb3.00

CSCLK946_V3测试板3.00

CSCLK954_HANDLER_V03测试板5.00

CSQD5387-老化5.00

CSVGA8370_V2 测试板3.00

DWTMRXXSP-10W*1-老化1.00

ESD_JEM9170测试板3.00

GF-QSFP_V1.05.00

GH281-4小板54.00

HFM2GA64NMA三温板工位板_V0115.00

HFM2GA64NMA三温板工位板SMT4.00

HKE-BPA23.00

HKE-BPB41.00

HKE-ZJB_V2.04.00

HMC1040_V02测试板6.00

IS82C55A测试板3.00

J5T9050-老化板1.00

JA54SX72_PQ208测试板1.00



2.00

JAD731A_V1测试板3.00

JAMX3378-AC1_V03测试板3.00

JAMX3378-AC2_V03测试板3.00

JCDCLVD1204_V1.1测试板3.00

JCDCLVD1204_V3测试板3.00

JDA5682_V07测试板3.00

JDDS9910_750HD_V01测试板3.00

JDS26LS32-T-J750HD测试板3.00

JDS90CR285/286测试板3.00

JEM8280-V2.0测试板3.00

JEM8377_V1.2测试板2.00

JFR124? 测试板4.00

JK2579协议验证板5.00

JK64843-4M_V03测试板3.00

JK64843-4M测试板3.00

JL_ST3000_CH_V1.01信号转接板1.00

JLVCH16245AG_V02测试板3.00

JM512K32_测试板3.00

JMAX3462_ETS测试板5.00

JMAX3491E_V033.00

JMAX6822_V02测试板3.00

JMFNP16G16AWP_AGE_20220810.00

JMFOP01G11F_PCB6.00

JMFOP01G11T_PCB6.00

JMR512K32测试板-SMT1.00

JMX9247-老化60.00

JOP8552测试板2.00



5.00

JPC2945_CP_probe_V01测试板3.00

JPD3906瞬态试验板3.00

JPL7172_AUTO_V1pcb3.00

JPMR4616Y接口板3.00

JRAC157-F测试板3.00

JRAC240-CFP20测试板3.00

JRKSZ8851_V053.00

JRKSZ8851_V063.00

JRKSZ8851动态-A1N013.00

JRKSZ8851静态-A1N03.00

JS1573-4M_V2.PCB5.00

JS25056 pcb3.00

JS2682_DIE2_CON_V01测试板3.00

JS2682_DIE2_V01测试板3.00

JS2682_DIE3_CON_V01测试板3.00

JS2682_DIE3_V01测试板3.00

JS2682_DIE5_CON_V01测试板3.00

JS2682_DIE5_V01测试板3.00

JS2682-CGW-V2 常高温测试板5.00

JS26C31BW_PCB3.00

JS5050_V01测试板3.00

JS70302_PCB3.00

JS71381pcb3.00

JS721B_BURNIN_CTL_V1.012.00

JS721B_BURNIN_V1.012.00

JS73005_V1 pcb3.00

JS73016测试板20.00

JSC71390_ESD_2211105.00

JSIMX6Q_6135.00

JSIMX6Q_TEST5.00

JSR26C32BW_V02测试板3.00

JXCF128X_ULTRAFLEX pcb3.00

JXCF128X-CBGA64_V04 pcb3.00

JXCF128X-CBGA64-750HD pcb3.00

JXCF32P_4SITE-750HD测试板3.00

JXCF32P-BGA48-UP-老化10.00

JYIFO846测试板3.00

JZYD20035_V01测试板3.00

LCC32-V93000通用板10.00

LTM4600IV测试板3.00

LTM4627_V01测试板3.00

MAX1978ETMpcb3.00

MAX9247ECM+_V02测试板3.00

MC3Y057BE_AFE_V103.00

MC3Y066AE_PS_V107.00

MC3Y069BE_TEST_V102.00

MC3Y069BE_V105.00

MT41K512M16HA-125IT:A_V01测试板3.00

nor_flash三温鉴定驱动板测试板SMT15.00

PCDK-D125_V1.004.00

PCQK-15G601-5BR01_0-10_V2.019.00

PCQK-20G65/2-5BR01_0-20P_V2.002.00

PCQK-20G65/2-5BR01_0-30P_V2.002.00

PCQK-20G65_2-5BR01_0-10P_V2.002.00

PEX8748_EVB_V1.05.00

QE8031-up老化4.00

SCT2280FPAR测试板3.00

Singlefootcontrol_DOWN_V1.016.00

Singlefootcontrol_UP_V1.06.00

SM2C256测试板3.00

SM74401RGWT瞬态试验板3.00

SM7C1470V33-250测试板加工3.00

SN65HVD09-750HD pcb3.00

SOP-127-7SOP16-127-60/DIP16/SOP16-127-71通用板1.00

SW1936MFRH瞬态试验板3.00

TJA1021_V1测试板3.00

VCU118_X4 PCIE SLOT5.00

VXR5F01_ESD3.00

W25Q256JVFIQ_V01测试板3.00

WZJCK2P001_V01_ESD测试板3.00

X16 CONFIG MODULE5.00

X4X4X4X4 CONFIG MODULE5.00

X8X4X4 CONFIG MODULE5.00

X8X8 CONFIG MODULE5.00

XCF16 pcb18.00

XT-GCH-TEST-020016.00

XT-GCH-TEST-0200217.00

XT-GCH-TEST-020036.00

XT-GCH-TEST-020046.00

XT-GCH-TEST-020056.00

XT-GCH-TEST-020066.00

XT-GCH-TEST-020076.00

XT-GCH-TEST-020086.00

ZHP-INTERFACE_V11102.00

ZHP-MAIN_V10_20210708105.00

采集控制板7.00

空板20.00

炉温测试板1.00

透锡率验证板1.6mm厚10.00

透锡率验证板2mm厚20.00
PCBAWXT221018016.00
PCB板22113718M0440.00

22121725D023.00

8830EMMI试验板4.00

BaseBand_Analog_V110.00

BaseBand_Main_V15.00

CQFP100总剂量-单工位3.00



18.00

CS4357-老化13.00

CS6112R_APD_V35.00

CS6112T_SMA_V35.00

CS6112T_VCSEL_V35.00

CS9142老化驱动板3.00

CSCG2594_评估板_V16.00

HFM2GA64NMA-A0N0-老化4.00

JADG1208-实装测试板BW-V35.00

JDA5060测试板3.00

JDS91C176_DRIVER18.00

JESD204B_
    TransferPCB_230103
5.00

JMCP2515-A1N0-老化10.00

JSR706SD-CAST(陈真老所)5.00

JSR71395_D_软包封20.00

JSR71395_S_软包封20.00

JSR71395随机性测试母板5.00

MS29009ZE-老化6.00

MS2M025ZZ-DDR3-TSV-TEST2.00

MS2M025ZZ-SiP-TEST-V22.00

MS2M028ZZ_AI_TEST2.00

MS2M028ZZ_AI_WZJ_ TEST2.00

MS2M028ZZ_V7_WZJ_TEST2.00

TMRXXSP-10W*1-15Ω-老化3.00
WKB检测JM881281.00
WKB检验28335等5.00
国产化双路推挽驱动SiP模块HSDRIM_2G20.00
技术服务1.00
技术服务费JS714221.00
检测服务1.00
鉴定检验JS713751.00
连接器PCIE_TEST4.00
图像数字信号处理器 MS20001ZZ1.00

       2.交货地点:江苏无锡
       3.交付时间:合同签订后12周内完成生产和交付
三、企事业资格要求
       应为中国电子科技集团公司第五十八研究所合格供方内厂家
四、公告期限
       自公告发布之日起5自然日
       采购方:中国电子科技集团公司第五十八研究所
       联系人:王工\邢工0510-85817387  蔡工0510-85572602
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