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晶体缺陷观察
"晶体缺陷观察"标讯
中标
USTB-DY-2023034北京科技大学FIB制样FIB平面制样TALOS-STEMD-SIMS测试服务单一来源采购公示（新材料李成明45.1万6.30-7.4）
项目地址
北京市
发布时间
2023/06/30
招标产品
新材料
透射制样位错观察
AFM表面电容
FIB平面制样
空洞位错分析
SIMS分析
晶体材料分析
特征分析
PL谱
TALOS-STEMD-SIMS
XRT
晶体缺陷观察
透射电镜
杂质形态分析
测试
中标公司
江苏第三代半导体研究院有限公司
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