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磁性材料电磁示波器一体化集成电路ATE测试系统自动成套控制系统矢量网络分析仪12寸半自动晶圆探针台及测试系统无液氦综合物性测量系统配套实验线缆湿法化学清洗站数字万用表敏感元件双光子高精度三维直写系统高速实时示波器铁电存储器离子束刻蚀系统运算放大器芯片触摸交互侧屏Pattern2通道任意波形发生器高性能X86处理器记录电表可编程直流电源相变材料测试仪高速示波器晶圆键合机中大规模芯片检测分析平台74系列芯片实验对象板卡双光子高精度三维直写光刻系统真空应用设备集成电路参数测量仪高重频大能量飞秒激光器激光仪器ADC芯片网络特性测量仪霍尔效应测试仪高真空多靶共聚焦溅射台Memory芯片三维光学轮廓仪高真空双室磁控溅射薄膜沉积系统铪基铁电薄膜原子层沉积系统4通道示波器介电功能材料综合测试系统工艺试验机搭载面包板激光脉冲分子束外延光学测试仪器集成电路芯片测试软件存储芯片FT测试自动化分选机半导体器件参数测量仪半导体参数测试软件二氟化氙气体刻蚀系统电子元件参数测量仪频谱分析仪
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磁性材料电磁示波器一体化集成电路ATE测试系统自动成套控制系统矢量网络分析仪12寸半自动晶圆探针台及测试系统无液氦综合物性测量系统配套实验线缆湿法化学清洗站数字万用表敏感元件双光子高精度三维直写系统高速实时示波器铁电存储器离子束刻蚀系统运算放大器芯片触摸交互侧屏Pattern2通道任意波形发生器高性能X86处理器记录电表可编程直流电源相变材料测试仪高速示波器晶圆键合机中大规模芯片检测分析平台74系列芯片实验对象板卡双光子高精度三维直写光刻系统真空应用设备集成电路参数测量仪高重频大能量飞秒激光器激光仪器ADC芯片网络特性测量仪霍尔效应测试仪高真空多靶共聚焦溅射台Memory芯片三维光学轮廓仪高真空双室磁控溅射薄膜沉积系统铪基铁电薄膜原子层沉积系统4通道示波器介电功能材料综合测试系统工艺试验机搭载面包板激光脉冲分子束外延光学测试仪器集成电路芯片测试软件存储芯片FT测试自动化分选机半导体器件参数测量仪半导体参数测试软件二氟化氙气体刻蚀系统电子元件参数测量仪频谱分析仪
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磁性材料电磁示波器一体化集成电路ATE测试系统自动成套控制系统矢量网络分析仪12寸半自动晶圆探针台及测试系统无液氦综合物性测量系统配套实验线缆湿法化学清洗站数字万用表敏感元件双光子高精度三维直写系统高速实时示波器铁电存储器离子束刻蚀系统运算放大器芯片触摸交互侧屏Pattern2通道任意波形发生器高性能X86处理器记录电表可编程直流电源相变材料测试仪高速示波器晶圆键合机中大规模芯片检测分析平台74系列芯片实验对象板卡双光子高精度三维直写光刻系统真空应用设备集成电路参数测量仪高重频大能量飞秒激光器激光仪器ADC芯片网络特性测量仪霍尔效应测试仪高真空多靶共聚焦溅射台Memory芯片三维光学轮廓仪高真空双室磁控溅射薄膜沉积系统铪基铁电薄膜原子层沉积系统4通道示波器介电功能材料综合测试系统工艺试验机搭载面包板激光脉冲分子束外延光学测试仪器集成电路芯片测试软件存储芯片FT测试自动化分选机半导体器件参数测量仪半导体参数测试软件二氟化氙气体刻蚀系统电子元件参数测量仪频谱分析仪
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激光仪器存储芯片FT测试自动化分选机MEMORY芯片高速示波器介电功能材料综合测试系统2通道任意波形发生器矢量网络分析仪高重频大能量飞秒激光器无液氦综合物性测量系统真空应用设备三维光学轮廓仪磁性材料相变材料测试仪双光子高精度三维直写系统实验对象板卡74系列芯片中大规模芯片检测分析平台电子元件参数测量仪高性能X86处理器二氟化氙气体刻蚀系统激光脉冲分子束外延搭载面包板霍尔效应测试仪半导体器件参数测量仪高真空多靶共聚焦溅射台一体化集成电路ATE测试系统电磁示波器晶圆键合机铪基铁电薄膜原子层沉积系统ADC芯片光学测试仪器运算放大器芯片集成电路参数测量仪敏感元件频谱分析仪记录电表双光子高精度三维直写光刻系统PATTERN铁电存储器离子束刻蚀系统可编程直流电源高真空双室磁控溅射薄膜沉积系统12寸半自动晶圆探针台及测试系统4通道示波器高速实时示波器网络特性测量仪数字万用表触摸交互侧屏集成电路芯片测试软件半导体参数测试软件湿法化学清洗站配套实验线缆工艺试验机自动成套控制系统
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